УПРАВЛЕНИЕ БОЛЬШИМИ СИСТЕМАМИ
на главную написать письмо карта сайта

Подход к выбору метода тестирования смешанных интегральных схем на основе стоимостной модели


Автор(ы): Мосин С. Г.
Название статьи:  Подход к выбору метода тестирования смешанных интегральных схем на основе стоимостной модели
Выпуск: 41
Год: 2013
Библиография: Мосин С. Г. Подход к выбору метода тестирования смешанных интегральных схем на основе стоимостной модели / Управление большими системами. Выпуск 41. М.: ИПУ РАН, 2013. С.344-356.
Дата опубликования: 30.01.2013
Ключевые слова: тестопригодное проектирование, интегральные схемы, стоимостная модель
Аннотация: В работе предложена модель оценки стоимости тестирования смешанных ИС, учитывающая особенности используемой интегральной технологии и производственной линии. Представлен подход к выбору способа тестирования смешанных ИС, оптимального с точки зрения минимума стоимостных затрат на тестирование. Определены условия принятия решения по использованию методов внешнего или внутрисхемного тестирования, которые могут быть сформированы на основе предложенной модели уже на ранних стадиях процесса проектирования ИС. Приведены результаты экспериментальных исследований.


Author(s): Mosin S.
Article title: Approach to test method selection for mixed-signal integrated circuits based on cost model
Issue: 41
Year: 2013
Keywords: design-for-testability, integrated circuits, cost model.
Abstract: The model has been proposed of test cost estimation for mixed-signal integrated circuits (IC) taking into account features of integrated technology used and of fab production line. The approach of test technique selection to minimize test cost is suggested for mixed-signal IC. Decision rules are defined for both on-chip and off-chip test selection, which can be developed on the base of the proposed model already at early stages of IC design. Experimental results have been shown.


в формате PDF
Обсудить статью в Интернет-конференции по проблемам управления

Просмотров: 3815; загрузок: 1387, за месяц: 24.

Назад

ИПУ РАН © 2007. Все права защищены